作者:Jiongyi Chen, Wenrui Diao, Qingchuan Zhao, Chaoshun Zuo, Zhiqiang Lin, XiaoFeng Wang,Wing Cheong Lau, Menghan Sun, Ronghai Yang, and Kehuan Zhang
单位:The Chinese University of Hong Kong, Jinan University, The University of Texas at Dallas, Indiana University Bloomington
出处:NDSS 2018
资料: PDF, Slides, Video
Abstract
现有的针对IoT设备的安全分析工作都是基于固件来展开的,这样会引入如何获取固件以及如何分析固件的问题。
考虑到设备以及架构的多样性,作者借助IoT设备的移动端App设计了一个黑盒模糊测试工具来避开这类问题以分析IoT设备上的内存错误漏洞。
作者设计并实现了IOTFUZZER并测试了17个不同的IoT设备,最终发现15个内存错误漏洞,其中包括了8个未知的漏洞。
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